MISIONES.UNO | En Leandro N. Alem se realizó una jornada informativa en el ITEC con la participación de autoridades educativas y municipales. El encuentro abordó protocolos de prevención, viajes estudiantiles seguros y herramientas de respaldo institucional, reafirmando el compromiso de la ciudad con una educación más acompañada y fortalecida.


En el Instituto Tecnológico (ITEC) de Leandro N. Alem se llevó a cabo una nueva Jornada Informativa organizada por el Consejo General de Educación, en el marco de la resolución 8041/25, junto a la Junta de Clasificación y Disciplina. El encuentro tuvo como propósito reforzar el trabajo articulado entre el sistema educativo y los organismos que acompañan el desarrollo de las instituciones escolares del departamento.

Durante la actividad se compartieron actualizaciones, protocolos y herramientas que brindan mayor seguridad y respaldo a las comunidades educativas. Entre los temas abordados se destacaron el Protocolo de Prevención de Conductas de Riesgo, el RADP, el SiRyC, el alcance de títulos y el Protocolo de Viajes Estudiantiles Seguros. Estos lineamientos buscan garantizar que cada escuela disponga de información clara y actualizada para enfrentar los desafíos cotidianos.

La Municipalidad de Leandro N. Alem acompañó activamente la jornada, reafirmando su compromiso con la educación como pilar fundamental para el crecimiento de la ciudad y el bienestar de las familias.

El encuentro contó con la presencia del intendente municipal, Dr. Matías Sebely; la presidente del Consejo General de Educación, Lic. Daniela López; el coordinador de Planeamiento Educativo, Prof. Dante Genessini; la secretaria escolar departamental, Lic. Norma Brettín; la presidente de la Junta de Clasificación y Disciplina, Prof. Raquel García; además de supervisores de la zona.

Con estas acciones, Alem avanza hacia una educación más cuidada y acompañada, con una mirada de futuro que integra a todos los actores del sistema educativo en la construcción de comunidades escolares más seguras y fortalecidas.